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  • 掃描離子電導顯微鏡

    掃描離子電導顯微鏡

    掃描離子電導顯微鏡(Scanning Ion Conductance Microscopy,SICM)是一種非接觸型的掃描探針顯微鏡,具有納米級的測量分辨率。SICM可對柔軟樣品進行非接觸式掃描成像并獲得三維形貌,可在生理條件以納米級分辨率測量樣品形貌。

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    產品特點

    掃描離子電導顯微鏡(Scanning Ion Conductance Microscopy,SICM)是一種非接觸型的掃描探針顯微鏡,具有納米級的測量分辨率。SICM可對柔軟樣品進行非接觸式掃描成像并獲得三維形貌,可在生理條件以納米級分辨率測量樣品形貌。

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