掃描離子電導顯微鏡

掃描離子電導顯微鏡（Scanning Ion Conductance Microscopy，SICM）是一種非接觸型的掃描探針顯微鏡，具有納米級的測量分辨率。SICM可對柔軟樣品進行非接觸式掃描成像并獲得三維形貌，可在生理條件以納米級分辨率測量樣品形貌。